Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Издательство:
Издательство "Лаборатория знаний" (ранее "БИНОМ. Лаборатория знаний")
ISBN:
978-5-00101-478-2
Год:
2017
Издание:
3-е изд.
Страниц:
607 страниц
Уровень образования:
Бакалавриат

Чтение книги недоступно

Для доступа к чтению книги необходимо войти в систему. Если у Вас есть личный кабинет в ЭБС Лань - авторизуйтесь, используя форму входа в правом верхнем углу экрана. Если у Вас нет личного кабинета - Зарегистрируйтесь в системе.
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Электронный ресурс] : сборник научных трудов / под ред. Жу У., Уанга Ж.Л. ; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина. — Электрон. дан. — Москва : Издательство "Лаборатория знаний", 2017. — 607 с. — Режим доступа: https://e.lanbook.com/book/94144. — Загл. с экрана.
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.