Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум

Антоненко С.В.
Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум
Антоненко С.В.
Издательство:
Национальный исследовательский ядерный университет «Московский инженерно-физический институт»
ISBN:
978-5-7262-1428-3
Год:
2011
Страниц:
96 страниц
Уровень образования:
Бакалавриат, Магистратура, Специалитет

Чтение книги недоступно

Для доступа к чтению книги необходимо авторизоваться
Антоненко, С.В. Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов [Электронный ресурс] : учеб. пособие — Электрон. дан. — Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. — 96 с. — Режим доступа: https://e.lanbook.com/book/75888. — Загл. с экрана.
Лабораторный практикум посвящен изучению свойств пленок, наноструктур, наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии, при этом существенное внимание уделено технологических процессам получения образцов для таких исследований. Лабораторный практикум выполняется в режиме как локального, так и удаленного доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследованию наноструктурированных материалов, объектов и систем методами сканирующей зондовой микроскопии. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по специальности «Физика конденсированного вещества» и специализирующихся по кафедре «Компьютерного моделирования и физики наноструктур и сверхпроводников», а также может быть рекомендовано для студентов, аспирантов, слушателей групп повышения квалификации и переподготовки специалистов в области получения и исследования пленок, наноструктур и наноматериалов
Гриф: Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений